Izdelki za astrografsko oprema za mreže (10)

Großschrift-Tintenstrahldrucker mit hervorragender Schriftqualität für den universellen Einsatz in der Industrie Der Großschrift-Tintenstrahldrucker zur berührungslosen Kennzeichnung (DOD) unter extremen Umgebungsbedingungen: Das REA JET Standard-Kennzeichnungssystem ist ein Basis-Produkt für den universellen Einsatz in der Industrie. Die perfekte Konstruktion und REA-Schreibkopftechnologie ermöglichen dabei problemlos den anspruchsvollen Einsatz auch unter extremen Umgebungsbedingungen.

TOPOS Interferometrische Messsysteme für die berührungslose Ebenheitsprüfung von feinbearbeiteten Präzisionsteilen TOPOS Interferometer arbeiten nach dem Prinzip des streifenden Lichteinfalls, so dass die Ebenheit auch rauerer Teile, die mit dem Planglas oder Fizeau-Interferometer kein Streifenbild mehr zeigen, gemessen werden können. Aus dem Interferenzstreifenbild wird von einem Rechner die Ebenheit eines Teils bestimmt. Neben geläppten oder feingeschliffenen Teilen sind auch polierte Teile messbar. Die Teile können aus verschiedensten Werkstoffen bestehen: Metall (Stahl, Aluminium, Bronze, Kupfer, etc.) Keramik (AL2O3, SiC, SiN, etc.) Kunststoff etc. Die Interferometer können in der Fertigung in der Nähe der Bearbeitungsmaschine aufgestellt werden. Die Absolutgenauigkeit beträgt bis zu 0.1 µm über das gesamte Messfeld.

Faserlaser von Telesis für Ihre Kennzeichnungsanwendung Telesis Faserlaser sind für die Beschriftung einer Vielzahl von Produkten die richtige Wahl. In unterschiedlichen Leistungsstärken erhältlich - von 10 bis 100 Watt. Als Fertiglösung in einem Laserschutzgehäuse oder als kundenspezifische Sonderlösung. Wir helfen Ihnen für Ihre Kennzeichnungsanwendung die richtige Lösung zu finden.

Fizeau Interferometer, 4″ -System, Tabletop system, Automatic interference evaluation. max. probe diam.:4"

The new generation of Micro-Epsilon’s 3D sensors impresses with high accuracy during measurement and assessment of components and surfaces. The surfaceCONTROL and reflectCONTROL inspection systems from Micro-Epsilon are intended for matt and shiny surfaces respectively. The 3D snapshots are recorded in a short time and provide detailed 3D point clouds. These 3D sensors are used, e.g., for geometric component testing, position determination, presence checks and the measurement of flatness or planarity. Thanks to their high performance, the sensors are used for inline applications, on robots and also for offline inspection.

Smart_Shape_Pro controlla automaticamente, in pochi secondi, la geometria e la dimensione della lente, e dei fori, rispetto ad un master di riferimento, che può essere importato da un file DXF o OMA o direttamente acquisito dal sensore integrato. Il software Smart_Shape_Pro è in grado di analizzare anche la forma di lenti con profili dalla geometria complessa. Lo strumento fornisce all’operatore un rapido riscontro tramite un segnale viviso di « Pass / Fail » oltre ad alimentare automaticamente un database con tutti i dati raccolti. Per maggiori informazioni visita il sito web del prodotto e contatta SmartVision!

Valuable, portable measuring microscope with integrated coaxial and angular incident illumination. steady, anodized aluminium body focussing by knurled ring and fine-pitch thread transformer with LED or battery LED lamp Magnifications:20x tos 800x Fields of view:8.9 mm to 0.35 mm Measurement range:Z 8 mm

NTEGRA is a multifunctional device for performing the most typical tasks in the field of Scanning Probe Microscopy. The device is capable of performing more than 40 measuring methods, what allows analyzing physical and chemical properties of the surface with high precision and resolution. It is possible to carry out experiments in air, as well as in liquids and in controlled environment. The new generation electronics provides operations in highfrequency (up to 5MHz) modes. This feature appears to be principal for the work with highfrequency AFM modes and using highfrequency cantilevers.* There are several scanning types implemented in NTEGRA scanning by the sample, scanning by the probe and dualscanning. On account of that, the system is ideal for investigating small samples with ultrahigh resolution (atomicmolecular level) as well as for big samples and scanning range up to 100x100x10 µm. XY sample positiniong:5x5 mm Positioning resolution:readable resolution - 5 um sensitivity - 2 um

En accompagnement du logiciel Sam3D, le matériel suivant servira à la réalisation du bilan postural aidé par imagerie 3D Dispositif d'acquisition d'image Sam3D TOWER Ordinateur All In One 24'' Logiciel Sam3D TOWER Plaque au sol de référence Sam3D Stylo de marquage Roll-Up Sam3D ou Adhésif mural Sam3D

stable granite and iron cast stand with manual z-adjustment high performance stepper motion controller with joystick and serial interface XY Stage GT8, Rotary Stage RT5, Wafer-Chuck WC6 precise xy stage GT8 with 200 x 200 mm stroke rotary stage RT5 with high round- and flat runout below 5 µm wafer-chuck WC6 for 4-12" wafer wafer-chuck with vacuum-fixture for 12", 10", 8", 6" and 4" wafer